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              硅分析系統

              Thermo Scientific Nicolet 硅分析系統、賽默飛世爾尼高力、美國熱電尼高力授權總代理 、賽默飛尼高力總代理、Thermo Scientific Nicolet總代理。

              • 商品編號:Nicolet
              • 貨  號:Nicolet
              • 品  牌:賽默飛世爾
              • 計量單位:
              • 型號: Nicolet
              • 原產地: 美國
              • 類型: 進口儀器
              • 廣東工程師電話: ?13510853788
              • 咨詢設計
              • 倉儲物流
              • 實驗室裝修
              • 品牌代理
              • 售后維修
              • 實驗室認證
              • 1、協助客戶做前期調研;
                2、跟進客戶要求實驗室圖紙設計;
                3、制定實驗室儀器及耗材購買預算;
                4、協助客戶經費審批申請。
              • 1、實行5S倉儲管理體系;
                3、配套儀器、試劑及耗材品種類型齊全,應有盡有,滿足客戶全方位需求;
                4、配置多輛物流車輛及專業配送人員,為您提供安全快捷的送貨服務;
                5、能為VIP客戶提供即呼即應的特殊響應服務。
              • 1、本公司擁有實驗室家具自主品牌“MINKE”;
                2、工廠占地面積5000平方,擁有先進的制作工藝;
                3、專業工程師上門測量及提供實驗室標準方案,能為你定制型生產并上門安裝。
              • 1、與亞洲最大的化學試劑供應商國藥化試深度合作,并被列為國藥廣東經銷處;
                2、整合各大國外知名品牌打包銷售,包括:美國賽默飛、德國耶拿、德國IKA,德國福里茨等等;
                3、結合上海儀電、上海博迅、寧波新芝、北京吉天、天大天發、富勒姆等國內品牌商為你打造性價比最高儀器 配置。
              • 1、多名資深售后工程師(定期接受各大廠商專業售后培訓并獲得資質證書);
                2、各大知名廠商指定特約售后服務點;
                3、提供最快速的設備安裝調試服務,培訓服務以及上門維修保養服務;
                4、解決設備使用技術難題。
              •   我們協助客戶進行藥廠GMP認證,食品QS認證以及CNAS認證和國家實驗室認證認可等,使你的實驗室符合國際標準。

              Thermo Scientific Nicolet 硅分析系統性能極佳,擁有成本低,可靠性高。
              Nicolet 分析系統可以快速測量間隙碳和間隙氧以及外延薄膜厚度,適用于半導體晶片生產和太陽硅應用。 經光伏硅轉換太陽能的需求持續顯著增長,Nicolet 硅分析系統可提供快速、可靠的多功能分析。

              Nicolet 硅分析系統的處理選項包括:1)自動分析 300 mm(最大)的晶片;2)低成本手動測量單個點。 本系統可提供行業趨勢變化所需的靈活性,可用于方形晶片和金屬片的分析。
              具有硅分析選項,可以滿足各種預算需求。 所有解決方案均包括軟件工具,其中包括:

              碳、氧和外延薄膜(300nm 至 7500nm)分析
              定量算法廣泛,擴展了功能,其中包括:線性回歸法、經典最小二乘法 (CLS) 和偏最小二乘法 (PLS)
              支持 ASTM 和 JEIDA 標準,可以測量替代碳和間隙氧
              此高級自動分析系統以 Nicolet x700 光譜儀為基礎,可滿足要求苛刻的操作環境。 此應用軟件具有完全自動化的掃描成像平臺,所含軟件可以實現:

              靈活的測量選擇:從單點繪制到整個晶片繪制
              處理 300mm (最大)的晶片
              透射與反射能力測量:可以接受的材料和薄膜非常廣泛
              簡便的用戶操作
              此手動分析系統基于 Nicolet x700 或 Nicolet iS10 FT-IR 光譜儀,適用于要求不太苛刻的 QA/QC 應用。 此系統在樣品室中使用手動旋轉平臺,包括:

              單點分析手動定位樣品
              在樣品室中處理晶片
              具有透射測量能力,可以接受眾多材料和薄膜

              Recommended for:

              測量硅中碳和氧的含量,以便對光伏器件進行過程控制
              介電薄膜中摻雜物的濃度級別(BPSG、PSG、FSG 等)
              氮化硅薄膜中的氫含量
              外延薄膜厚度
              MEMS 器件厚度
              硅片中的代位碳和間隙氧含量

              提問
              非會員顧客 說: 18-05-30 19:59
              有布魯克V70操作手冊么

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